高生産性、低テスト・コストなスケーラブル・ソリューション
成長を続けるSSD市場において、デバイス・メーカーには、拡大を続ける製品ポートフォリオを低コストでテストできる方法が必要です。MPT3000HVM2およびMPT3000HVM3は、最高の性能が要求されるエンタープライズSSDから、コスト効率が重要なコンシューマーSSDまで、あらゆるSSDに対応できる広範な機能を用意しています。
フレキシブルなアーキテクチャ
当社のテスト・システムで広く採用している「Tester-per-DUT」アーキテクチャと、独自のハードウェア・アクセラレーション技術により、さまざまなプロトコルやフォームファクタのSSDに対応できます。1つのプラットフォーム・ソリューションで、SATA、SASおよびPCIe Gen 5などの主要プロトコルをすべてサポートします。
MPT3000HVM2およびMPT3000HVM3は、交換可能なインタフェース・ボードを使用することで、U.2、M.2、AICおよびEDSFFなどすべてのフォームファクタに対応できます。異なるSSD製品間の工程切り替えも数分で完了します。
MPT3000HVM2およびMPT3000HVM3は、拡大傾向にある高性能SSDの電力範囲に対応できるように設計されています。閉ループ温度制御により定格電力最大50ワット以上のデバイス試験をサポートします。
テスト・コストを削減
省スペースで高密度実装のシステム構成により、ユーザーのフロアプラン効率化とコスト削減に貢献します。
BISTテストを可能にする「Smart Power」オプション
オプションの「Smart Power」を使用することにより、より低価格な構成でBIST（Built-In Self-Test：デバイス内部に自己診断回路を組み込むテスト手法）を行うこともできます。
Stylus™ソフトウェアの優れた機能
MPT3000シリーズ共通のStylus™ソフトウェアは、エンジニアリング環境と量産環境のどちらのニーズにも対応し、コード開発やテスト挿入管理を大幅に簡素化します。汎用テスト・メソッド・ライブラリとデバッグ機能が含まれているため、容易にテスト・フローの開発が可能です。さらに、熟練ユーザーは、プログラミング言語C/C++と強力なアプリケーション・プログラミング・インタフェース（API）を使用して、テスト・メソッドの開発・編集を行うことができます。また、Traffic Capture Debug Toolによるプロトコル通信解析やEye Diagram観測など、設計から量産まで一貫して使用できるデバッグツールを備えています。
MPT3000HVM2およびMPT3000HVM3のSLATE™ユーザー・インタフェースは、エンジニアリング・モード、メンテナンス・モード、オペレーター・モードを用意しています。同時測定時のSSD間非同期試験により量産テスト効率を最適化しています。
