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半導体テスト・システム
半導体が設計どおりに動作するか、どれ位品質に優れているかを、高い精度とコスト効率で試験します。半導体の設計評価から量産立ち上げ、歩留まり向上を強力にサポートします。
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テスト・システム周辺機器
テストする半導体とテスト・システムを接続するインタフェースや、テスト・システムに半導体を搬送する装置など、テスト・システムの周辺で使用する製品群です。また、システム・レベルでの試験装置やソフトウェアもここで紹介します。
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測長SEM/欠陥レビューSEM
走査型電子顕微鏡(SEM)の技術を応用し、フォトマスクやウェーハ上の配線パターンなど微細な表面構造を高精度かつ安定的に測定、レビューします。
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電子計測・理化学・医療機器
当社の祖業である電子計測器および、電子計測技術をヘルスケアほか多方面に応用した製品群です。
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Advantest Cloud Solutions™
半導体の各工程からデータを収集し、人工知能や機械学習により解析するデータ・インフラストラクチャーです。リアルタイムに最適化されたソリューションで、半導体バリューチェーン全体の生産性向上を可能にします。