エクサスケール・コンピューティング時代の技術課題に応える最先端テスト・ソリューション
半導体プロセスの進化は、IoTやモバイル端末、自動車、大規模サーバーなどから発生する無数のデータをリアルタイムに処理する技術革新に貢献しています。今後、モバイルプロセッサ、ハイパフォーマンス・コンピューティング（HPC）、人工知能（AI）ICの進化と共に、処理されるデータ量も指数関数的に増加していきます。半導体テストはこれらに対応するため、膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった、新たな課題に取り組んでいく必要があります。
V93000 EXA Scale™は、半導体業界で高い実績を持つV93000アーキテクチャーをさらに進化させ、スキャンテストの高速化やスループットの向上など数多くのイノベーションを実現しました。半導体に100京回／秒の超高速処理が求められる「エクサスケール」の時代において、新たなテスト手法の導入やテストコストの削減、量産までの期間短縮といったさらなる価値を半導体バリューチェーンに提供します。
テクノロジー
高い同時測定効率
V93000 EXA Scale™のカードは、アドバンテストが独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化、簡素化を可能にします。「Pin Scale 5000」と「XPS256」各カードのチャンネル数は、従来製品比2倍の256チャンネルを実現しました。小さなシステムで多数個同時測定を可能にし、お客様のテストフロアのインフラコストとスペース削減に貢献します。
16個のハイスピードコア、MIPSプロセッサ、DSPコアを搭載
Xtreme Link
半導体試験装置に最適化した通信ネットワーク
V93000 EXA Scale™は、半導体テスト・システム用に特別に設計された通信ネットワーク「Xtreme Link™」テクノロジー（特許取得済み）を採用しています。高速データ接続、高いデータ処理能力、機器間通信をはじめ多くのメリットをお客様に提供します。
Pin Scale 5000
半導体試験の新標準となる卓越したスキャンテスト能力
新デジタル・カード「Pin Scale 5000」は、大規模なデジタルデバイス特有の膨大なスキャンデータ量を考慮して設計されています。新標準5ギガビット／秒のスキャンテスト、テストプログラムを一括して格納／出力できるベクターメモリーを備え、Xtreme Link™と合わせて使用することで業界最高クラスの処理能力を実現します。これらにより、お客様はデバイスに最適なスキャン方法を選択できます。
XPS256
拡張性を備えた電源カード
1ボルト未満で最大数千アンペアという低電圧大電流の電源は、半導体テスト・システムの重要な差別化要因となっています。新電源カード「XPS256」は、高精度、柔軟な並列駆動（フレシキブル・ギャンギング）、優れた静的／動的パフォーマンスといった特長により、1つのDPSカードであらゆるニーズをカバーする業界革新的な電源です。
XPS128+HV
高電圧パワーデバイスのテスト・コストを削減
電力要件が厳しい電子機器に搭載される半導体には、そのテストにも高度な電力性能が求められます。「XPS128+HV」 は、従来のXPSシリーズを高電圧用途に拡大しこれらのテストニーズに応えます。チャンネル数は128、最大24ボルトまで対応可能なこのカードは、USBタイプの電力供給コンポーネント（USB PD）や、パワーマネジメントIC （PMIC）の充電機能のテストなどに最適な電源です。マルチサイト・アプリケーションにも対応した高いチャンネル集積度で、テスト・コストの削減に貢献します。
新テスト・ヘッド
従来製品との互換性を保ちつつ、テストインフラの拡張が可能
V93000 EXA Scale™は、デジタル、RF、アナログ、パワーなどのテスト機能を、さまざまなサイズのテスト・ヘッドに拡張可能な、スケーラブルなテスト・ソリューションです。従来製品である「V93000 Smart Scale」と互換性を持ち、お客様のV93000 EXA Scale™へのスムースな移行と資産の有効活用をサポートします。OSはV93000で多くの実績のある「SmarTest」であり、お客様は所有のソフトウエア資産を引き続きお使いいただけます。
エクサスケール・コンピューティングの時代を迎えた今、パフォーマンス、コスト、品質、量産展開といった困難なテスト課題を、V93000 EXA Scale™のイノベーションが解決します。
EXテスト・ステーション
高機能デバイスの立ち上げに最適なV93000プラットフォーム用小型テスト・ステーション
EXA Scale EXは非常にコンパクトなサイズと優れたコスト・パフォーマンスで、デバイスを開発するエンジニアリング・ラボのキャパシティ拡大に最適なソリューションです。また、量産用システムとの互換性を有し、エンジニアは新たに開発したテスト・プログラムやテストボードなどのテスト・コンテンツを量産環境にスムーズに移行することができます。費用対効果に優れた当ソリューションは、ストラクチャル・テストおよびファンクショナル・テストの立ち上げにお使いいただけます。
当社のシングルサイト・テスト・ハンドラ「M4171」に収めることで、フロア効率を従来製品比4倍に拡大することができます。高度に自動化されたM4171ハンドラと組み合わせてご使用いただくことで、テスト・セルをリモート制御することができ、エンジニアリング・コストの最小化とTime to Marketの短縮につながります。
Pin Scale Multilevel Serial
Pin Scale Multilevel Serial
Pin Scale Multilevel Serial はV93000 EXA Scale™向けHigh Speed I/O（ HSIO ）カードであり、最先端の通信インターフェースのテスト要件に対応する業界初のプラットフォーム完全統合型カードです。
HSIOインタフェースは、コンピューティング分野を中心に発展してきましたが、HDMI®やDisplayPort™、USB などの民生向けインタフェースにも広く採用されるデジタル通信技術です。特にコンピューティング分野では、PCI Express（PCIe）5.0および6.0においてマルチ・ギガビットの超高速データ転送速度が提案されており、既にシングル・ボード・コンピュータへの組込みが始まっています。マイクロ・コントローラやモバイル・アプリケーション・プロセッサ、さらにハイ・パフォーマンス・コンピューティング（HPC）や人工知能（AI）向けデバイスに至るまで、大規模高度化がすすむデジタル設計においてHSIO技術の実装は必要不可欠であり、また、HSIOテストは、新規デバイス設計における特性評価だけでなく、製造立ち上げの初期段階にも欠かせません。
