メモリ・テスト・システム
「T5851」は、高速プロトコルNANDフラッシュメモリ向けのメモリ・テスト・システムです。5G通信時代を迎え期待が高まっている、「UFS4.0」規格のUFS（コントローラを内蔵したNANDフラッシュメモリ）や、「PCIExpress
Gen 5」対応のBGA(Ball Grid Array)タイプSSDなどのシステムレベル・テストに最適です。
「T5851」は、デバイスのシステム・レベル・テストに特化した新しい分野のテスト・ソリューションにおいて、これまでのメモリ・テスト・システムと同様の信頼性、低コストかつ量産性能を実現し、お客様のあらゆるニーズに応えます。
