T5835は、最大5.4Gbpsの試験速度で、NANDフラッシュからDDR-DRAM、LPDDR-DRAMに至るあらゆる次世代メモリチップの試験を、パッケージ試験だけでなく高速ウェーハ試験まで広くカバーします。768個のデバイスを同時に測定でき、業界最高水準のスループットでテスト・コストを削減します。また、モバイルメモリ向けに応答速度を高めたデバイス用電源などの機能を備え、試験歩留まり向上を可能にします。
高速化が進むメモリ試験に不可欠となるタイミングトレーニング機能や、様々なデバイスデータパターンによる高速評価、不良解析機能なども従来機より大容量化及び、高速化を実現しました。これらの機能により、テスト時間を短縮すると共に、歩留りの改善にも貢献します。また、将来を見据えスケーラブル構造を採用。演算用CPUの追加などにより高機能化や高速化、大容量化が可能になります。
「T5835」は、メモリ・テスト・システムのグローバル・スタンダードとして実績のあるT5800シリーズを継承し、更に拡張性を強化したプラットフォームを採用しています。小型で評価・解析現場用のSTH
(Small Test Head) や、大規模な後工程試験に適したLTH (Large Test Head)、また高速ウエハプロービングを実現するMTH(Middle Test
Head)などの複数のモデルがあります。現場のニーズに最適なシステム構成を選択・提供できるため、顧客の初期投資低減と効率化に貢献します。また、デジタル・モジュールはアップグレードが可能であり、将来の拡張ニーズに対し、ソリューションを継続して提供します。
