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T5830/T5830ES

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メモリ・テスト・システム

フラッシュ・メモリの評価から量産まですべての試験に対応

モノのインターネット(IoT) やウェアラブルデバイスなどのポータブル機器の普及に伴い、使われるフラッシュ・メモリの需要も引き続き増加すると予想され、そのテストには更なるコスト低減が求められています。
「T5830」はフラッシュ・メモリの量産試験に最適化された、リソースと機能を搭載しています。IoTデバイスやSSDなどへの需要増を背景とするフラッシュ・メモリの量産拡大を、業界トップクラスの優れたコスト・オブ・テスト（COT）性能で支えます。

業界トップレベルの量産試験同測数を実現

フラッシュ向けウエハ試験では業界最大となる2,304個のフラッシュ・メモリを、プローブカード上でリソースを分岐することなく同時測定し、ウエハスループットの大幅な向上に貢献します。また、パッケージ試験においては最高800Mbpsの試験速度で最大768個同時測定を実現します。

フラッシュ量産試験に最適な機能・リソースによりテスト効率を最適化

  • LPCフラッシュインターフェースに最適なパーサイト及びピン構成（全ピンIO）
  • リアルタイム制御可能な3値高電圧ドライバ
  • 最大2,304個同時測定に対応したデバイス電源リソース
  • 高電圧電源印加と測定機能（オプション）
  • 各種メモリハードウェアを搭載（AFM,DFM,DBM, BBM, BBC, FC, CFM）

共通プラットフォームの採用で最適なシステム構成を実現

「T5830」はメモリ・テスト・システム共通T5800プラットフォームを採用しています。T5800シリーズには小型で評価・解析現場用のES（Engineering Station)や、大型で大規模量産に適したDSTH(Dual Satellite Test Head), QSTH(Quad Satellite Test Head) など複数のモデルがあります。拡張性あるT5800シリーズは、現場のニーズに最適なシステム構成を選択でき、顧客の初期投資低減と効率化に貢献します。

Target Devices NOR Flash, NAND Flash
Parallel Testing Wafer sort: 2,304 (x4pin)
Final test: 768
Test Speed Up to 800Mbps
Overall Timing Accuracy ±350ps
Software FutureSuite OS (ATL and MPAT compatible)

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