メモリ・テスト・システム
バーンインとメモリ・セル・テスト機能を兼ね備えた高生産性システム
5G技術の普及を背景に、データセンターとモバイル通信を中心にDRAM需要が急拡大しています。データセンターはより多くのメモリを必要とし、スマートフォンには高解像度のマルチカメラが搭載されはじめています。一方でメモリICの平均販売価格は下落傾向にあり、半導体メーカーは生産量を増やしながらテストコストを削減する必要があります。
先端DRAMおよびLPDDR向けメモリ・テスト・システム「H5620」「H5620ES」は、バーンイン機能とメモリ・セル・テスト機能を兼ね備えたシステムです。需要拡大が続くDRAM市場において、テスト効率を上げながらテストコストを削減するという課題を一挙に解決へと導く、ハイブリッド・メモリ・テスト・ソリューションです。
H5620
H5620ES
