メモリ・テスト・システム新製品「T5221」を発表 NANDフラッシュを含む不揮発性メモリIC向け、マルチ・プローバーに対応

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株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明)は、NANDフラッシュをはじめとする不揮発性メモリを高精度にテストするメモリ・テスト・システム「T5221」を発表しました。従来製品比5倍のデータ転送速度、マルチ・プローバー内部に組み込み可能な省スペース、最大12台のテスト・ステーションを同時測定可能といった特長を備え、テストコストの削減とスループットの向上を可能にします。ウェーハ・テスト、BIST(Built-In Self-Test:デバイス内部に自己診断回路を組み込むテスト手法)およびウェーハ・バーンイン・テストのいずれにもご利用いただけます。

マルチ・プローバー向けNANDウェーハ試験装置の世界市場規模は約1億米ドルにのぼります(当社調べ)。デバイスの大容量化などとともに、顧客は従来のウェーハ・ファンクション試験から、コストに優れたDFT(Design For Testability:テスト容易化設計)へとシフトしています。

T5221は、他社製マルチ・プローバーの各ステージにテスト・ステーションを組み込み、システム・コントローラーから制御します。最大12台のテスト・ステーションを独立して制御できます。システム・コントローラーの分以外に設置面積の追加を必要とせず、当社の不揮発性メモリ向けテスタ史上最高のスペース効率を実現しました。ウェーハ試験でテスト・ステーション1台当たり最大1152個のデバイスを同時に試験することができ、スループットの向上を可能にします。

T5221は、進化したハードウエア性能と高速データ転送能力により、NANDフラッシュのウェーハ試験のテスト時間とコストを劇的に削減します。初号機の出荷は2022年の1~3月期を予定しています。

左)メモリ・テスト・システムT5221 テスト・ステーション 右)同システム・コントローラー

アドバンテストについて

アドバンテストは、計測技術をコアテクノロジーとするテスト・ソリューションカンパニーです。1954年の創業以来、エレクトロニクスの発展とともに成長し、人びとの暮らしの「安心・安全・心地よい」をサポートしてきました。主力製品となる半導体試験装置は世界最大手であり、当社の海外売上高比率は9割を超えています。アドバンテストは、「先端技術を先端で支える」という企業理念のもと、進展著しいデジタル社会のインフラストラクチャーである半導体の品質や信頼性の向上を通じて、社会の持続可能な発展に寄与しています。詳しくは当社ウェブサイト(www.advantest.com/ja/)をご参照ください。

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