低コスト、省スペース、簡単操作の新測定ソリューション
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 代表取締役社長：吉田 芳明）は、テラヘルツ光サンプリング解析システム「TAS7400TS」の高周波数分解能オプションを発表しました。Beyond5G/6Gの次世代通信技術やADAS（先進運転支援システム）に用いられるミリ波レーダー技術に欠かせない電波吸収体や基板材料などの高周波特性評価において、扱いやすさとコストパフォーマンスに優れた画期的な測定手法を提供します。
ミリ波および高周波領域での各種材料の伝達特性 (透過率、反射率) や、複素誘電率などの特性評価では、ベクトル・ネットワーク・アナライザー(VNA)がこれまで広く使われてきました。近年、広帯域な特性把握が重要になりつつある中、VNAでは周波数帯毎のセッティングやキャリブレーションの手間が大きな問題となっています。
アドバンテストのテラヘルツ解析システムは、パルス状の電磁波を活用し測定を行うので広帯域の一括測定が可能です。コンパクトな光学系（測定環境）で測定可能であり、コストやスペースも節約できます。また、マッピング測定オプションにより面で周波数特性を解析することも可能です。当社従来品比で周波数分解能とスキャンスピードをそれぞれ5倍高め、新材料の高周波特性評価に最適なソシューションになりました。
当ソリューションは、11月8日から10日に開催予定の展示会「JASIS」、および11月24日から26日に開催予定の「マイクロウェーブ展」にそれぞれ出展します。
主な仕様
アドバンテストについて
アドバンテストは、計測技術をコアテクノロジーとするテスト・ソリューションカンパニーです。1954年の創業以来、エレクトロニクスの発展とともに成長し、人びとの暮らしの「安心・安全・心地よい」をサポートしてきました。主力製品となる半導体試験装置は世界最大手であり、当社の海外売上高比率は9割を超えています。アドバンテストは、「先端技術を先端で支える」という企業理念のもと、進展著しいデジタル社会のインフラストラクチャーである半導体の品質や信頼性の向上を通じて、社会の持続可能な発展に寄与しています。詳しくは当社ウェブサイト(www.advantest.com/ja/)をご参照ください。
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