株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：吉田芳明）は、今年7月に業務提携を発表したPDF Solutions Inc.（Nasdaq：PDFS、以下PDF社）との共同開発による、クラウドベースの新ソフトウエア・ソリューション「Advantest Cloud Solutions™」(ACS)の2つの新製品を発表しました。ACSは、設計評価から製造、チップテスト、システム・レベル・テストといった幅広い工程に活用可能な様々なデータを、お客様のワークフローから収集、解析します。先進的なアルゴリズム、統合されたワークフローと機能により、お客様の歩留まりの早期改善と生産設備の稼働効率向上をサポートします。
最新のプロセスノードやパッケージングといった半導体の技術課題は、半導体バリューチェーン全体のデータを活用するソフトウエア・ソリューションなくしては解決できない時代に突入しています。ACSは、これまで各工程でサイロ化されていたデータを一つのプラットフォームに統合し、品質、歩留まり向上、製造コストの劇的な効率化につなげます。
新製品①：V93000 Dynamic Parametric Test system powered by PDF Exensio®(DPT)
アドバンテストとPDF社が共同開発した、「V93000 SMU8」向けのインテリジェント解析・制御ソリューションです。テスト結果に従い、テストフローをオンザフライで自動的に最適化します。ダイテストのカバレッジ拡大、測定異常値の改善、生産設備由来の問題の是正に加え、不良の根本原因の特定と工程へのフィードバックに役立つデータの収集も行います。
新製品②：高性能エッジ・コンピューティング(HPC）
エッジ・コンピューティングを活用し、大量のテストデータをミリ秒単位のレイテンシで処理します。機械学習やデータ復調などの高い機能を備え、半導体テストへの機械学習の導入をサポートします。ユーザーはあらゆるデータをクラウドから追跡、管理、セキュリティ保護できるだけでなく、API (アプリケーション・プログラミング・インタフェース)を介して前の工程のテストデータにオンデマンドでアクセスすることもできます。生産現場での機械学習モデルとアルゴリズムの活用、テストフローの最適化に加え、最大限のセキュリティで秘匿性の高いIPのリモート管理を可能にします。
コメント：Douglas Lefever, CEO, Advantest America Inc.
「アドバンテストは、最先端のテストテクノロジーを提供することでお客様に価値を提供するとともに、クラウドを活用した迅速なフィードバックとコスト削減のサービスといった、新たなビジネス領域の開拓と製品ポートフォリオの拡充に継続的に取り組んでいます。これらのイノベーションは、『進化する半導体バリューチェーンで顧客価値を追求』という私たちのビジョンに沿ったものでもあります。」
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